Журнал · Rit.work

Суррогат на сетке ускоряет поиск дизайна FinFET

Авторы предложили графовый суррогат для TCAD, который переносится на более крупные FinFET и по их замерам выполняет оценку на четыре порядка быстрее симулятора.

Rit.work
Студия разработки
4 сентября 2026 г.2 мин чтения

Материал подготовлен автоматически по первоисточникам: ссылки на них — в конце статьи.

Исследователи University of Illinois Chicago представили суррогат для поиска конструкций GaN FinFET; работа опубликована как препринт, не прошедший рецензирование. По замерам авторов, оценка одной конструкции выполняется примерно на четыре порядка быстрее полного расчёта в Sentaurus Device. Подход важен командам, которым стоимость TCAD ограничивает перебор вариантов полупроводникового устройства.

Что сделали

Модель получает тетраэдральную сетку TCAD как граф и в каждом её узле предсказывает электростатический потенциал, а также квазиуровни Ферми электронов и дырок. При обучении ошибку предсказания дополняют невязкой непрерывности тока, рассчитанной методом конечных объёмов на рёбрах сетки. Это должно сохранять физическую согласованность результата при переходе к устройствам другого размера.

Несколько экземпляров модели образуют ансамбль: расхождение их прогнозов служит оценкой неопределённости. Контур активного обучения сначала проверяет кандидатов суррогатом, а затем отправляет в Sentaurus только варианты с наиболее информативными результатами. Обучающий набор авторы собрали тем же способом из 200 конструкций.

В пределах обучающего диапазона среднеквадратичная ошибка полей составляла 0,16–1,3 В. При переносе на более крупные сетки физически-информированная модель деградировала медленнее варианта той же архитектуры, обученного только по данным.

Что это значит

Практическая схема здесь состоит не в полной замене TCAD, а в разделении ролей: суррогат дешёво сортирует большую выборку, а исходный симулятор проверяет выбранные конструкции. Работа с сеткой также снимает требование сводить геометрию к фиксированному набору параметров и позволяет применять одну модель к графам разного размера.

Ограничения. Модель обучали на GaN FinFET с числом рёбер затвора не более пяти, а перенос проверяли на той же архитектуре устройства вплоть до 40 рёбер. Кодирование материалов привязано к конкретному стеку GaN, AlGaN, HfO2, TiN и Au, поэтому работа не показывает перенос на другие материалы и семейства приборов. Авторы сравнили подход с Sentaurus Device и собственной моделью без физической функции потерь, но не провели прямого экспериментального сравнения с другими суррогатами на сетках или методами активного поиска.

Источники

Иллюстрация: рисунок из статьи «Mesh-Native Physics-Informed Graph Surrogates for TCAD-in-the-Loop Design Space Exploration», Leonid Popryho, Ayoub Sadeghi, Inna Partin-Vaisband, CC BY 4.0

Пауза в чтении

Похоже на вашу задачу?

Расскажите, что собираете. За полчаса разложим на этапы и назовём сроки — это бесплатно и ни к чему не обязывает.

Rit.work

Студия разработки

Собираем мобильные приложения и помогаем командам получать от AI реальную пользу. Основатель и команда, работаем удалённо — с клиентами в России и за рубежом.

Ко всем материалам
Понравилось? Обсудим вашу задачу